行业知识

扫描电镜的先容

　　扫描电子显微镜（SEM）是一种通过用聚焦电子束扫描外貌爆发样品的图像的电子显微镜
。电子与样品中的原子相互作用，爆发包括样品外貌形貌和组成信息的种种信号
。以光栅扫描图案扫描电子束，并将光束的位置与检测到的信号组合以爆发图像
。 SEM可以抵达1纳米以上的区分率，已经并普遍用于质料剖析和失效剖析领域
。以下是胜科纳米剖析中心的SEM先容：